高海拔氣壓試驗箱-詳細資料報價歡迎垂詢

高海拔氣壓試驗箱用途：

適用于國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關產品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、(高原地區(qū))氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。 

一、產品特點：

1. 平衡調溫控制系統(tǒng)（BTHC）,以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內保持一定的壓

   力，并采用智能型數(shù)字溫度調節(jié)儀進行溫度的顯示與控制設定，故能長期穩(wěn)定

   使用.

2. 全新*的造型設計，外觀高質感水平,系統(tǒng)提取日本、西德良好技術之精華

   設計制造.

3. 采用全毛細管,自動負載容量調整系統(tǒng)技術,較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低

   溫自由轉換、設置、顯示更加精確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者

   節(jié)約寶貴時間.

二、性能:

1. 溫度范圍:  -70~+150℃/-50~+150℃/-40~+150℃/-20~+150℃/0~+150℃

2. 控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃  

3. 分布均勻度 ：±1.5℃   

4. 正常升溫時間 ： +20℃~+150℃小于40分鐘非線性空載。            

5. 正常降溫時間：   +20~—40℃小于60分鐘.非線性空載.

6. 溫度波動度: ±0.5℃.

7. 溫度均勻度: ±1.5℃.

8. 氣壓范圍：常壓（1.01325×105 Pa）～0.5kPa

u 壓力偏差：當常壓～壓力≥40kPa時，誤差 ≤±2.0kPa；

u 當 2kPa≤壓力＜40kPa時，誤差≤±5％；

u 當壓力≤2kPa～0.5kPa時，誤差 ≤±0.1kPa；

u 降壓速率: 常壓~0.5KPa  ≤45min(常溫、箱內干燥)

u 壓力恢復速率: ≤10kpa/min；

9. 測時間設置：0～99.59 Hr.

三、機箱結構

1. 圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)安全容器標準， 可防止試驗

   中結露滴水設計；

2. 圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，精密設計，氣密性良好；

3. 自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設

   計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護；

4. 型packing，箱內壓力愈小時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結

   合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延長packing壽命；

5. 實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣

   (partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度；

6. 臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

7. 箱體材質:

1) 外箱材質: SUS304高級不銹鋼板或A級冷軋板粉體烤漆.（電腦白色）

2) 內箱材質: SUS304高級不銹鋼板.

3) 保溫材質: 高密度聚氨酯.

四、選型及工作尺寸： 
ZT-CTH-80L        W寬40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120L      W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150L　 W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225L      W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306L　 W寬60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408L      W寬60XH高85XD深80cm 

ZT-CTH-800L　 W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000L    W寬100XH高100XD深100cm

五、控制器系統(tǒng)：

1. 采用韓國進口彩色型5.7寸或10.4寸進口微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按

   鍵型，中英文表示可程控器。 

2. 微電腦 P.I.D 自動演算控制溫度.

3. 采用指針顯示正負壓表.

4. 全自動過程控制，操作簡單.

六、安全保護裝置：

1.工作室超溫保護裝置.

2.加熱器短路、過載.

3.壓縮機過流過熱保護裝置.

4.漏電短路器保護開關.

5.鼓風電機過載過流

6.壓縮機壓力保護裝置

七、電源要求：

1.設備使用電源:  AC 1∮3W 220V 50HzAC 或3∮5W 380V 50Hz；電壓變動充許

                 值: 定格電壓的±10%.

八、執(zhí)行與滿足標準：

1. GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件.

2. GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件.

3. GB/ T 2421-1991《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則》.

4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗

   方法》 .

5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低

   氣壓綜合試驗方法》 .

6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低

   氣壓綜合試驗方法》 .

7. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗.

8. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序.